1. 平板探测器是DDR的核心部分，它采用半导体技术，将X线能量直接转换为电信号，用于产生X线图像。这种技术能够替代多种传统的X线检测器，如电视影像增强系统，并提供高质量的数字化影像输出。
2. 平板探测器主要分为CCD型和非晶硅型。CCD型平板探测器通过探测器内的CCD接受光信号，读出并形成数字图像。而非晶硅型平板探测器的核心是由非晶硅和薄膜晶体管构成的矩阵板，每个单元包含一个存储电容和非晶硅的场效应管。
3. 非晶硅型平板探测器具有良好的密度和空间分辨力，代表了目前的主要发展方向。碘化铯（cesium iodide, CsI）因其高X线接收和可视光子产量，被认为是X线接收器的最佳选择材料。非晶硅对于X线接收器来说是最理想的材料，因为非晶硅对放射线的伤害是免疫的。
4. 平板探测器的主要构成结构包括矩阵板、闪烁层、玻璃衬底、读出线路等。矩阵板包括薄膜三极管（TFT）、储能电容和集电器，其上沉积着非定型硅层。像素被安排为二维矩阵，每个像素具有电荷接收电极、信号存储电容及信号传输器，通过数据网与扫描电路连接。
5. 平板探测器的性能要求包括噪声低、动态范围宽和响应速度快。DDR成像系统可组合到用户原有X线机上使用，提供数字X线影像数据。
6. X线转换为电信号可由直接和间接两种方式完成。直接转换方式中，电压加于作为光电导体的层上，X线的能量直接转换为电信号。间接转换方式中，X线先由闪烁提转换为光信号，光信号再由光电二极管转换为电信号。
7. 平板探测器可有以上两种方式的转换形式，它们的主要不同点在于其制造结构上的差异上。两种类型的探测器各有优缺点。CsI闪烁体层在传递信号的同时不可避免的光散射的发生，吸收率有所下降，但对最终图像质量影像不大。其较高的量子检测效能（DQE）可在较低剂量曝光情况下获得高质量的图像。而以非晶硅作为光电导体可以直接将光信号转换为电信号，避免散射的发生。但是对X线吸收率较低，在低剂量条件下图像质量不能很好保证。且非晶硅层对于温度较敏感，使用条件受到。
8. DR和DDR的平板探测器可方便应用于目前常规X线摄影设备上，固定于立式胸片架或平床的滤波器。在曝光后几秒即可显示图像，无虚来回搬运暗盒；系统本身全固体化结构，无任何机构运动。在曝光同时操作室监视器上即可显示摄影图像,工作人员可对投照质量作出判断,缩短了检查时间,避免了因技术原因对患者的重复检查。
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