量測系統分析管理程序
QLS-OD-B40LITEON ELECTRONIC (TIAN JIN) CO., LTD
Update Record
DOC. NO. : QLS-OD-B40
Title : 量測系統分析管理程序
Rev. Code Rev. Date Update Doc No. Description Of Change
- A B 2004/09/14
2006/09/15
2009/04/13
TS-2004-073
TS-2006-019
TS-2009-019
ORIGINAL
Modify: Item5.7.2 ADD: 5.7.4
Modify: Item5.7.2 ,5.1.5.
QLS-AC-C072/A4
LITEON ELECTRONIC (TIAN JIN) CO., LTD
文件名稱 量測系統分析管理程序 頁次 1 of 5
文件編號 QLS-OD-B40 版次 B
1.目 的 : 分析該量測系統之變異與特性,確保產品品質。
2.範 圍 : 凡光電事業部管制計劃所使用之量規儀器與檢具皆涵蓋。
3.權 責 :
3.1量測系統再現性與再生性分析:由各量測設備使用單位執行之。
3.2量測系統再現性與再生性分析對象:為管制計劃中使用之儀器量具及其使用人員。
3.3量測系統線性分析:由儀器校驗人員執行之。
3.4量測儀器穩定度分析:由各量測設備使用單位執行之。
3.5量測系統分析MSA評估的週期為一年。
4.定 義 :
4.1量測儀器再現性:是指同一種量具同一位作業者,多次測量相同零件之指定特性時所得之
變異。
4.2量測儀器再生性:是指不同作業者使用相同量具,測量相同產品之特性時量測平均值之變
異。
4.3準確度:量測所得的平均值與規格值的差。
4.4精確度:量測數據之差異。
4.5穩定度:量測儀器長時間使用具有統計管制狀態之特性。
4.6線性:量測儀器之準確度平均值與標準樣本值所構成之迴歸,其斜率乘以樣本之製程變異
(或公差)。
PMS-OD-C383/A4
LITEON ELECTRONIC (TIAN JIN) CO., LTD
文件名稱 量測系統分析管理程序 頁次 2 of 5
文件編號 QLS-OD-B40 版次 B
5.作業內容:
5.1量測儀器之R&R分析時機及報告管理:
5.1.1新產品開發時,分析報告由品保部保管。
5.1.2製程能力不足時,懷疑量測系統不適當時。
5.1.3當客戶要求時。
5.1.4管制計劃新增量儀或檢驗量測人員變更。
5.1.5 儀器移動或故障修復後.
5.2分析之量測儀器設備:管制特性使用之量具(按紐式儀器無須分析再生性只需於校正後執
行線性分析)。
5.3量測系統R&R分析:
5.3.1選擇三位檢驗操作員分為A、B、C三者,零件10個,但作業者無法看到零件號碼。
5.3.2選擇校正合格之量具。
5.3.3使作業者A依隨機順序量測10個零件,並由品保部確認者在第一行填入量測數據,
請作業者B、C量測相同10個零件,但不使他們看到他人的量測值,將量測值分別記
入第6及11行。
5.3.4重複這個循環,但以不同的隨機順序進行量測,將數據適當填入第2、7及12行中,例
如:第一個被量測為7號零件,則在第7列中記錄量測值,如需第三次量測則重複此循
環,並將結果記入第3、8及13行中。
5.4量測系統R&R判定不合格時,依下列狀況判定,並採取對策,排除異常後應再執行分析:
5.4.1量具再現性大於再生性其理由為:
a.量測儀器需加以保養。
b.量具須重新設計以提高剛性。
c.量具之夾緊或定位方式須加以改善。
d.產品內變異有極值。
PMS-OD-C383/A4
LITEON ELECTRONIC (TIAN JIN) CO., LTD
文件名稱 量測系統分析管理程序 頁次 3 of 5
文件編號 QLS-OD-B40 版次 B
5.4.2量具再生性大於再現性其理由為:
a.作業者對量測儀器的使用及讀取需更良好的訓練。
b.量具刻度盤的校正未完整。
c.可能須某些夾具以協助作業者,更堅實使用量具。
5.5量測再現性及再生性數據。將所得數據於量具再現性及再生性報告上計算%EV、%AV
及R&R %值。
5.6全部的計算是基於5.15標準差(σ)--在常態分配曲線下99%的面積;
5.6.1 K1=5.15/d2 * ; d2 *是由量測次數值(m)及零件數乘以作業者人數(g)而決定。此處假
設(g)大於15。
5.6.2 AV-如果在開平方根符號下,其計算值為負值,則作業者變異設定為(0)。
5.6.3 K2=5.15/d2 * ; d2 *是由作業者人數(m)及(g)而決定因只計算一個全距,故(g)=1。
5.6.4 K3=5.15/d2 * ;d2 *是由零件數(m)及(g)而決定因只計算一個全距,故(g)=1。
5.6.5 d2 *取自A.J.DUNCAN所著,QUALITY CONTROL AND INDUSTRIAL STATISTICS`
之D3表。
5.7量具再現性及再生性判定原則:
5.7.1數值小於10%:量具系統良好。
5.7.2數值小於10%~30%:量測系統可能被接受但須依其重要性(FMEA中嚴重度≥7之儀
器)、量具費用、修理費用,和儀器精度而定。對於量測結果分析以及處理結果,必須
在GR&R報告中加以說明.
5.7.3數值超過30%:量具系統須加以改進,並確認問題、改進問題。
5.7.4若分析結果與人操作有關時,應對人員量測方法及技能加以培訓.
5.8量測系統線性分析:
5.8.1藉著選擇零件在量具整個作業的範圍方式可用來決定線性,每一被選擇零件之準確
度是以標準值與觀測平均值之差來決定。
5.8.2由最合適之準確度平均值與標準樣本件值所構成之迴歸線,其斜率乘以樣本之製程
變異(或公差)即代表量具之線性。
PMS-OD-C383/A4
LITEON ELECTRONIC (TIAN JIN) CO., LTD
文件名稱 量測系統分析管理程序 頁次 4 of 5
文件編號 QLS-OD-B40 版次 B
5.8.3將線性乘以100再除以製程變異(或公差)即得線性佔製程變異(或公差)的百分比。
5.8.4此零件的標準值是由工具室或精密檢驗設備求得的,在全操作範圍內的零件經由一
個或數個作業者量測而得每一零件之觀測平均值。
5.8.5再依每一零件之標準量測值與觀測平均值之差來決定量具準確度平均值,以準確度
平均值與全作業範圍內的標準量測值來繪製線性圖。
5.8.6在準確度平均值與標準量測值之間所得最佳的線性迴歸為代表了這兩個參數的線
性,線性迴歸線的適合度(goodness of fit)(R2)決定準確度平均值與標準值之間是否有
好的直線關係。(Linear relationship)
5.8.7從迴歸線之斜率(Slope)及零件的製程變異(或公差)之計算可得量具線性與量具線性
百分比。
5.8.8如果迴歸線有好的線性度(linear fit),則量具線性與線性百分比之大小可用評估量具
的線性是否可被接受。
5.8.9如果迴歸線不具有良好的線性度,則準確度平均值與標準量測值可能具有非直線性
關係,需要更進一步的分析以判斷此量具的線性是否被接受。
5.8.10如果量具具有非直線性(non linearity),其可能原因如下:
a.在作業範圍高及低二端,量具校正不適當。
b.最大或最小的標準值錯誤。
c.量具磨損
d.可能須檢討量具內部之設計特性。
5.8.11線性關係公式
Linearity=<︳slope︳>*<製程變異>
% Linearity=100< Linearity/製程變異>
Goodness of Fit Y=aX+b a= Σxy-[Σx×Σy/n] Σx2-(Σx) 2/n b=Σy/n-a×[Σx/n] R2= [Σxy-Σx×Σy/n] 2 [Σx2-((Σx) 2/n)] ×[Σy2-((Σy) 2/n)] PMS-OD-C383/A4 光寶電子(天津)有限公司 LITEON ELECTRONIC (TIAN JIN) CO., LTD 文件名稱 量測系統分析管理程序 頁次 5 of 5 文件編號 QLS-OD-B40 版次 A 5.8.12線性分析之時機為每次校驗完後,由儀校管理人員執行結果記錄於線性分析管理 表。 5.8.13本公司可接受之線性百分比為10%,超過此值時應分析原因並改善。若無法及時改 善則應依此直線設定修正值。超過30%則該儀器應送修處理或報廢。 5.9量測系統穩定度分析: 5.9.1管制計劃中測試設備具有計量值者應執行穩定度分析,由使用單位以golden-sample 在管制圖方式加以管制,定期送至儀校中心備查。 5.9.2 golden-sample由工程部門製作,品管部門確認,由使用單位使用執行之, 5.10 GO/NO-GO量測系統分析: 5.10.1選擇20個零件來執行,在避免作業者偏差的方法下,由二個作業者量測所有零件二 次。在20個零件中,應有部份零件是稍微大於或小於二端規格界限。 5.10.2如果所有量測在規格內,則量測被接受。如果所有量測在規格外,則此量具須被改善 或在評價,如果量具不能被改善,則不被接受,而且應尋求替代的量測系統。 5.10.3分析結果填寫於GO/NO-GO 檢具分析表。 6.相關文件: 6.1 QS 9000量測系統分析應用技術手冊。 7.表單: 7.1量具再現性及再生性報告(PMS-OD-C359/A4)。 7.2線性分析管理表(PMS-OD-C358/A4)。 7.3 GO/NO-GO 檢具分析表(PMS-OD-C360/A4)。 PMS-OD-C383/A4下载本文