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集成电路IC检验规范
2025-10-02 04:44:27 责编:小OO
文档

IQC检验规范产品名称集成电路IC

文件编号共  1  页第  1  页
序号检验项目检验内容要求检验频次检验器具检验方法不良等级示意简图(备注)
ABC
1供货商是否为合格供应商一次/每批目测B
2包装包装良好,附出厂合格证明一次/每批目测B
3规格、数量产品规格、名称、数量与实物一致一次/每批目测(与标样对比)

B
4标识标识清晰、完整、正确一次/每批目测(与标样对比)

C
5标识附着力标识附着力良好10只酒精(分析醇)、棉球

用酒精棉球拭擦三次,字迹应保持清晰B
6外观检查无破损、变形、污迹,引脚无氧化

10只目测(与标样对比)

B
7封装尺寸详见产品规格或图样10只游标卡尺测量相关尺寸,判断与标准尺寸是否相符A
8功能符合产品性能标准10只专用检测工装详见相应集成电路检测工装操作说明

A
  备

  注

1、封样产品应该在供货商送的第一批合格产品中抽取,原则上以后规格、标识、外观等方面的检验以封样的产品为标准。

2、抽样标准:一般以10只/每批        检验水平:一般检验水平Ⅱ级。

3、致命缺陷(A):极重要质量特性不符合规定,导致产品性能完全丧失;AQL——0.065。严重缺陷(B):重要质量特性不符合规定,导致产品性能部分失效;AQL——0.65。一般缺陷(C):一般质量不符合规定,轻微影响或者不影响产品的正常性能;AQL——1.5。

4、反应计划:若发现1个或1个以上A类缺陷或B类缺陷以及2个以上C类缺陷则该批产品则判为不合格品,并对不合格品并进行隔离、标识。同时具备两种以上不合格的进行不合格评审;单项不合格的外检站应将统计结果上交质管部,质管部反馈给供应商。

5、质检单上应记录以上所有A类、B类检验项目的检验结果。

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