一、判断题（每题1分，共20分）

1. 射线探伤缺陷的检出效果与射线透照角度有关。（ √ ）

2. X射线的能量取决于管电压，而强度主要取决于管电流。（ √ ）

3. 波长短的射线比波长长的射线容易被材料吸收。（ × ）

4. 按国标规定，从A到C，检验等级降低。（ × ）

5. 射线照相法探伤底片通常不能反映缺陷的深度。（ √ ）

6. 射线实时图像法探伤的灵敏度一般比射线照相法的高。（ × ）

7. CT既能获得断层的二维图像,也能获得缺陷的三维图像。（ √ ）

8. 超声波探头只能直接产生纵波，而横波与表面波只能由波型转换产生。（ √ ）

9. 横波探伤要求入射角大于第一临界角和第二临界角。（ × ）

10. 超声波的吸收与材料内部组织有关。（ √ ）

11. 脉冲反射法超声波探伤有点类似普通雷达的工作方式。（ √ ）

12. 超声波难以探测小于波长一半的缺陷。（ √ ）

13 涡流探伤只能对磁性材料探伤。（ × ）

14 涡流探伤的深度既与频率有关，还与材质有关。（ √ ）

15. 磁力探伤对缺陷的检出能力与磁化方向有关。（ √ ）

16. 渗透探伤用于对表面或近表面的缺陷进行探伤。（ × ）

17. 声发射探伤的原理与测量地震震源的原理相似。（ √ ）

18. 声发射可以探测出材料内部已经存在的缺陷。（ × ）

19. 红外探伤是利用红外线穿透物质并在物质中衰减的特性来探伤。（ × ）

20. 红外探伤只能对发热的物体进行探伤。（ × ）

二、多重选择题（每题2分，多选少选不得分，共20分）

1. X射线探伤利用了X射线的哪些性质?  答案：a  d  e   

a. 荧光效应。

b. 光电效应。

c. 康普顿效应。

d. 能使照相胶片感光。

e. 不同物质对X射线的吸收和散射不同。

2. 超声波探伤利用了超声波的哪些性质?  答案：a  b  c  d   

a. 在异质界面上发生反射、折射和波形转换。

b. 在不同物质中的传播速度不同。

c. 直线传播。

d. 压电效应。

e. 绕射性。

3. 工业X射线探伤与医用X射线查体有何异同?  答案：a  b  c  

a. 原理相同。

b. 管电压不同。

c. 管电流不同。

d. 曝光时间相同。

e. 医用X射线查体利用了X射线的生物效应。

4. 以下对各种射线的论述正确的有：  答案：b  c  d  e   

a. γ射线的波长都比X射线波长短，穿透能力都比X射线强。

b. 中子射线可以用于探测特定的物质。

c. 能被射线穿透的物质对射线是透明的，反之不透明。

d. 中子射线与X射线的衰减规律一样，但中子射线的衰减与原子序数无规律。

e. 高能X射线比普通X射线的能量高，二者的产生方法也不同。

5. 以下关于射线照相影像质量的说法，正确的有：  答案：    a      

a. 焦点尺寸小，影像清晰度高。

b. 焦距越大，影像质量越高。

c. 工件厚度大，影像清晰度高。

d. 底片黑度大，影像质量高。

e. 射线能量高，穿透能力强，影像质量高。

6. 关于X射线探伤缺陷影像的说法，正确的有：  答案：   d  e   

a. 裂纹、气孔在底片和荧光屏上都是黑色的。

b. 夹钨在底片和荧光屏上都是白色的。

c. 裂纹、气孔在底片上是白色的，在荧光屏上是黑色的。

d. 裂纹、气孔在底片上是黑色的，在荧光屏上是白色的。

e. 夹钨在荧光屏上是黑色的，在底片上是白色的。

7. 以下关于各种探伤方法的说法，正确的有：  答案：  a  c  e    

a. X射线容易检出延伸方向平行于X射线的缺陷。

b. X射线容易检出延伸方向垂直于X射线的缺陷。

c. 超声波探伤容易检出延伸方向垂直于声束的缺陷。

d. 超声波探伤容易检出延伸方向平行于声束的缺陷。

e. 磁力探伤容易检出延伸方向垂直于磁力线的缺陷。

8. 关于超声波，以下说法正确的有：  答案：  b  c  e    

a. 超声波的产生是利用正压电效应，而接收是利用逆压电效应。

b. 超声波的产生是利用逆压电效应，而接收是利用正压电效应。

c. 超声波只能在弹性介质中传播。

d. 超声波跟声波一样，可在空气中传播。

e. 横波只能在固体中传播，而纵波可在固、液、气体介质中传播。

9. 关于超声波纵波探伤与横波探伤的说法，正确的有：  答案：   b  d     

a. 相同频率的纵波比横波探伤灵敏度高。

b. 相同频率的横波比纵波探伤灵敏度高。

c. 同一介质中相同频率的横波比纵波的传播速度快。

d. 同一介质中相同频率的纵波比横波的传播速度快。

e. 同一介质中相同频率的纵波与横波的传播速度相同。

10. 关于超声波探头的参数选择，正确的有：  答案：  a  c  e    

a. 小尺寸缺陷选用频率高的探头，大尺寸缺陷选用频率低的探头。

b. 小尺寸缺陷选用频率低的探头，大尺寸缺陷选用频率高的探头。

c. 薄板选用入射角大的探头，厚板选入射角小的探头。

d. 厚板选用入射角大的探头，薄板选入射角小的探头。

e. 厚板选大直径探头，薄板选小直径探头。

三、问答题（每题15分，共30分）

1. 为何超声波可用于探伤？声波是否可以？ 

答题要点：

超声波频率高、波长短，具有以下特性：

具有良好的指向性；

直线性；

直线传播（类似于光波）符合光学定律

声速为常数（固定介质）

由传播时间可求得传播距离 t  

束射性（定向辐射）；

传播中能量损耗小；

因而可用于探伤。

而声波频率低，波长长，绕射性好，传播中能量损耗大，因而不能通过反射来探伤，但可利用声发射来探测动态缺陷。

2. 射线在物质中按什么规律衰减？与哪些因素有关？射线对物质有哪些作用？

答题要点：

衰减规律：

Jd=J0e -d （单色平行射线）

影响因素：

   d:物质厚度；    

   ：衰减系数 ＝ K3Z3 =  +  

   K：系数，决定于比重

    ：波长

    Z：原子序数

    ：吸收系数

    ：散射系数

光电效应、康普顿效应、电子对效应。

四、作图题（每题15分，共30分）

1. 画图说明X射线照相法探伤系统的组成以及各种标记的放置。

2. 画图说明A型显示脉冲反射法超声波探伤仪的工作原理。下载本文